Benefits of System
- 1在线非接触式实时测量及偏差管理(厚度、重量、密度)
- 2一流的数据管理方案。超纳米级偏差管理。定制传感器,例如 X 射线、β 射线和激光传感器
- 3流程管理、利用实时监控系统优化生产流程。
- 4通过提升产品质量,减少损耗、增加利润并增强品牌竞争力。
- 5世界一流的技术、定制化生产,以及全球企业的首选!
Providing the data analyzed in Various ways and providing the statistical data
including SQC to support the requirements of user and optimized process control.
Featured Products
1050H Thickness Gauge
利用同轴位移传感器,测量正极/负极涂层的厚度。
在不受表面和反射光影响的情况下,最大程度地减小了振动和张力变化的影响,
实现了轧制压延工艺中最佳的厚度管理。
* 非接触式厚度测量装置 / 专利号10-1825081

6800X Thickness Gauge
MEK 在线 X 射线和 β 射线厚度测量仪用于薄膜或箔的制造过程中,用于测量产品的厚度。
提供更精密的测量,有助于提高产品质量、优化工艺并节约成本。
Partner Company
我们始终致力于通过丰富的经验和最新的技术,生产出世界一流的产品,以满足客户的需求。
History of MEK
专利证书
MEK的研发中心通过不断的研究,
始终引领行业技术发展,
并提供最优质的产品。
认证
MEK的研发中心通过不断的研究,
始终引领行业技术发展,
并提供最优质的产品。
Contact
-
Address
(21315)仁川广域市富平区富平大路313街30
-
Tel
Map